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HAST試驗箱與高低溫試驗之間的區(qū)別看完你就懂了
點擊次數(shù)：2256 更新時間：2020-07-15
目前，在集成電路IC領域，環(huán)境可靠性測試設備主要有高低溫試驗箱以及HAST試驗箱。但為什么HAST試驗箱會成為集成電路IC可靠性測試的佳選呢?兩個試驗箱之間的區(qū)別究竟在哪呢?下面就讓我們一起來了解一下吧。
這由于HAST試驗箱結合壓力、濕度、濕度條件的高加速試驗，在高壓條件下加速濕氣滲透到外外部保護物料(塑封料或絲印)或沿外保護物料與金屬導電層之間界面滲入，本測試用于識別封裝內部的失效機制，并且是破壞性的。
高低溫試驗箱可分為高低溫運行測試、高低溫貯存測試、高低溫交變測試、高低溫循環(huán)測試、溫度沖擊測試等，雖然可測試的項目較多，可測試集成電路IC在不同溫度條件下的使用壽命。
但只是單一的溫濕度測試不夠準確的測試產品在氣壓下的使用情況。而HAST試驗箱測試集溫度-濕度-壓力(非飽和可調)一體，多方面測試集成電路IC，評估產品的失效機制。
高低溫試驗箱的產品優(yōu)勢：
1、極限測試溫度可達300℃，低溫-200℃，電耗低;
2、低溫長期1000小時以上不結霜;
3、可編程控制，可通過互聯(lián)網、WIFI、手機APP等監(jiān)控設備運行情況。
HAST試驗箱的產品優(yōu)勢：
1、濕度可調式溫度-濕度-壓力一體試驗設備，測試穩(wěn)定性高;
2、可配置多個測試端口供給用戶產品帶電測試;
3、設備升溫時自動預排空氣潔凈度，確保箱內純凈度;
4、箱體采用耐高壓設計技術，確保設備、操作人員安全。
那么在看完上述內容之后大家是否對這兩個試驗箱有更多的了解呢?那么在兩者之間的選擇上就不用我們多說相信各位心里已經有更好的答案了。
